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納米粒度儀及電位分析儀

APS-100高濃度納米粒度儀 Zeta-APS電位分析儀 ZetaZF400-電位分析儀 ZetaZA500-電位分析儀原液在線檢測分析儀 CHDF3000高分辨納米粒度儀 CHDF4000高分辨納米粒度儀納米粒度儀分析儀

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AREPA型原液zeta電位分析儀

更新時(shí)間：2020-11-25

型號：AREPA型

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CHDF4000型高分辨率納米粒度儀

更新時(shí)間：2020-03-19

型號：CHDF4000型

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高分辨率納米粒度儀 CHDF4000是基于光散原理的儀器，使用新的技術(shù)對高分辨率的粒度分布（PSD）進(jìn)行測量，包括高粒子檢測靈敏度、動(dòng)態(tài)范圍、納米粒子的優(yōu)化分析；
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CHDF4000型CHDF4000納米粒度儀及成分分析儀

更新時(shí)間：2020-03-26

型號：CHDF4000型

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CHDF4000納米粒度儀及成分分析儀 CHDF4000是基于光散原理的儀器，使用新的技術(shù)對高分辨率的粒度分布（PSD）進(jìn)行測量，包括高粒子檢測靈敏度、動(dòng)態(tài)范圍、納米粒子的優(yōu)化分析； CHDF4000可提供完整范圍5納米至NM3微米，真實(shí)的PSD數(shù)據(jù)；通過粒子分離真正的PSD數(shù)據(jù)，關(guān)于粒子大小分布的形狀不需要假設(shè)；自動(dòng)化操作，通過一個(gè)人性化界面即可完成全部操作
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APS100納米粒度儀

更新時(shí)間：2020-11-25

型號：

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APS100納米粒度儀$n美國MAS公司成立至今有30余年歷史，專注于超聲電聲法原理顆粒度檢測、 Zeta電位分析儀的研發(fā)生產(chǎn)。超聲法原理測試樣品的顆粒分布，是采用聲波發(fā)生器發(fā)出一定頻率和強(qiáng)度的超聲波在樣品中傳播，由于不同大小粒徑對聲波的吸收、散射作用不同，導(dǎo)致聲波衰減程度不同。根據(jù)顆粒大小和聲波衰減之間的函數(shù)關(guān)系，得到顆粒的粒度分布。
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AREPA 在線檢測AREPA 在線檢測納米分析儀

更新時(shí)間：2020-04-08

型號：AREPA 在線檢測

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AREPA 在線檢測納米分析儀這款新型的聲波傳感器粒徑測量可用在許多工業(yè)生產(chǎn); 如加工管道、化學(xué)反應(yīng)器、瓷磚印刷設(shè)備、半導(dǎo)體 CMP 拋光、石油生產(chǎn)/加工、藥品輸送系統(tǒng)等，同時(shí)具有顯著的經(jīng)濟(jì)效益。
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MAS-APS-100超聲電聲法高濃度納米粒度及電位分析儀

更新時(shí)間：2023-05-05

型號：MAS-APS-100

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胤煌-超聲電聲法高濃度納米粒度及電位分析儀可測量水溶液、非水溶液分散系，分散系濃度范圍從0.1% ~60%。非常輕松就可測量1nm到50um的樣品顆粒；
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CHDF-4000胤煌-納米粒度儀-高分辨率檢測

更新時(shí)間：2023-03-24

型號：CHDF-4000

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胤煌-納米粒度儀-高分辨率檢測具有出色的分離技術(shù)，使得顆粒能夠自小到大排列進(jìn) 入檢測器 , 從而達(dá) 到對不同顆粒進(jìn)行 “ 計(jì) 數(shù) “ 的目的，超高的尺寸分分辨率有助于操作者更加敏銳的發(fā) 現(xiàn) 細(xì) 微粒度分布的變化。
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zeta-APS原液超聲電聲法粒度及Zeta電位分析儀

更新時(shí)間：2023-03-17

型號：zeta-APS

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原液超聲電聲法粒度及Zeta電位分析儀 1)測量樣品不需要稀釋或樣品準(zhǔn)備，從而消除了操作失誤和數(shù)據(jù)的不確定性，同時(shí)節(jié)省了時(shí)間； 2)物有所值的諧振硬件設(shè)計(jì)； 3)寬粒徑測量范圍：從5nm到1000um； 4)自動(dòng)電位和容積測量用于簡單快速的等電位（IEP）測定、表面活性劑的吸附效果和許多其他動(dòng)態(tài)測定； 5)由于機(jī)載樣品混合和/或測量時(shí)的泵送能力，沒有粒子沉降的不利影響； 6)Zet
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